通過從 "熔體 "中拉出一個種子晶體，形成一個高純度單晶半導體（如矽或鍺）的圓柱形鑄錠，在形成的過程中未消除的氣泡簡稱為Pin Hole包覆至切割成片的晶圓中，由於人無法目視需透過機器做檢測；蔽公司所開發的檢測設備 Automated IR Inspection (全自動晶圓針孔檢查機) 具有高效率且精準的檢測晶圓PinHole與晶圓瑕疵。

可依客戶需求訂定晶圓尺吋， 如有需求與疑問請立即與我們聯繫。